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報告書

4種の$$gamma$$線スペクトロメトリ法によるウラン濃縮度測定

東條 隆夫

JAERI-M 83-222, 38 Pages, 1983/12

JAERI-M-83-222.pdf:1.28MB

LEPS HP Ge-、Ge(Li)-、NaI(Tl)-$$gamma$$線スペクトロメトリ法および多重シングルチャネル・アナライザ法の4種の測定法によるウラン濃度測定を、LMRI UO$$_{2}$$比較標準試料を用いて行い、各測定法の濃縮度測定特性を検討した。1.4~9.6 a/o範囲の濃縮度を6.297a/oの標準試料を用いて測定した結果、次の標準偏差で測定できた。(i)HP Ge法:1.4%、(ii)Ge(Li)法:2.0%、(iii)NaI(Tl)法:1.2%、(iv)多重シングルチャネル法:0.51%。一連の測定を通して、各測定法と用いた標準試料にともなう系統誤差の要因ならびに本標準試料の特質の一端が明らかになった。

報告書

多重シングル・チャネル・アナライザーによるウラン濃縮度測定

東條 隆夫

JAERI-M 82-074, 37 Pages, 1982/07

JAERI-M-82-074.pdf:1.06MB

Nal(Tl)検出器12.318a/0および3.051a/0の標準金属ウラン試料を用いた多重シングル・チャネル・アナライザーによるウラン濃縮度測定を種々なアナライザー・ウインド設定条件で行い、得られた濃縮度ER$$_{M}$$をGe $$gamma$$線スペクトロメー夕による濃縮度ER$$_{G}$$と比較・検討した。濃縮度が7.345,5.638および0.535a/0と測定された試料の濃縮度ER$$_{M}$$とER$$_{G}$$との差異(ER$$_{M}$$-ER$$_{G}$$)はそれぞれ-0.001,0.066および-0.009a/0であり、10分間計測時の統計誤差はそれぞれ0.23,0.29および1.9%であった。これらの測定では、185-keV$$gamma$$線($$^{2}$$$$^{3}$$$$^{5}$$U)のピーク計数率測定用のウインドは216~210keVに、バックグラウンド計数率測定用のウインドは216~291keVに設定された。この設定条件は、ここで用いた種々の設定条件の中で最も安定で、外部放射線の影響が少ない測定が可能であることが明らかになった。

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